4200A-SCS-PK1 - система измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ с высоким разрешением)

4200A-SCS-PK1 – система измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ с высоким разрешением) является универсальной системой, позволяющей осуществлять замеры вольт-амперных характеристик I-V по току DC, производить снятие вольт-фарадных параметров на переменном токе с использованием импульсного режима с устройств полупроводникового типа и структур, подлежащих тестированию и расположенных на пластине. Основной сферой применения данного устройства является полупроводниковое производство.

Система измерения 4200A-SCS-PK1 может быть задействована:

• для замеров вольт-амперных характеристик с использованием токового диапазона от  0,1 фА до 1 А и диапазона уровня напряжения от 1 мкВ до 210 В;
• для замеров на переменном токе с использованием диапазона до 420 В с уровнем разрешения 1 мВ и с частотой в диапазоне от 1 кГц до 10 мГц;
• для ультрабыстрого и импульсного тестирования с показателем временного разрешения – 5 нс;
• для автоматического переключения между режимами, предназначенными для замеров вольт-амперных характеристик и вольт-фарадных параметров переменного тока.

Вся измерительная система представлена комплектом приборов в виде одного базового блока анализатора параметрического типа, двух измерительных модулей, имеющих среднюю мощность, а также одного токового предусилителя и одной оснастки, обеспечивающей подключение тестируемых компонентов. Система обладает модульной многоканальной архитектурой и настраиваемой конфигурацией. При этом имеется возможность поддержки до 9 модулей. Система представлена комплексом средств аппаратного и программного обеспечения.

Основные отличительные особенности измеряющей системы данной модели:

• наличие встроенной рабочей станции, работа которой основывается на базе операционной системы Windows 7;
• наличие встроенного сенсорного жидкокристаллического дисплея с высоким уровнем разрешения (1920х1080 точек), диагональю 15,6 дюймов;
• поддержка 9-ти модулей, предназначенных для осуществления замеров в одновременном режиме;
• в качестве опции в состав системы может включаться отдельный прибор в виде предусилителя токов малого уровня, который используется для модулей со средним и высоким уровнем мощности;
• возможность измерения вольт-фарадных характеристик с параметрами дифференциального смещения ±60 В при частоте от 1 кГц до 10 мГц, также замеры могут осуществляться с использованием квазистатического либо ультранизкочастотного режима;
• наличие библиотеки, которая содержит до 450 тестов;
• прибор обладает широким набором интерфейсов и портов (USB, SVGA и т.д.).

.